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印制电路板清洗质量检测(二)-7

作者:  来源:smt100 

 

D、测量:

H级:在24小时内在热循环的高温保温阶段每隔(2-3)小时测量一次,测量电压极性与偏压相同,烘箱门不能打开。温湿实验结束后,去掉偏压,从烘箱中取出样品,在大气条件下恢复1小时之后、2小时之前按B。的要求进行测量。

T级:按B的要求,加100VD。C。电压进行测量(取1分钟后读数)。

E、样品评估:

H级:以烘箱内的最后测试数据和在大气条件下恢复后的测试数据为判断依据。

T级:以测试数据的平均值为判断依据。

4)目测

表面绝缘电阻测试完成后,将所有施加偏压位置的元器件取下(注:不可使用化学方法和加热方法)。用10X-30X放大镜对印制板进行全面积的腐蚀和树枝晶检查。印制板上应无明显的腐蚀现象。如有树枝晶形成,其尺寸不应超过焊盘或布线间距的20%。表面涂层不应有变质、破裂和生斑等现象。

测试方法的选择

萃取溶液电阻率测试法是由Hobson和DeNoon在70年代初期,作为工艺控制的工具而建立的,是表面离子污染测试的最早方法。

然而,1998年瑞典Per-Erik Tegehall博士进行了如下实验:从每个印制板生产厂商选取印制板3块,其中2块按标准方法测试,另1块则在萃取过程中施加超声波。其表面离子污染测试结果列于表6.

6 MgNaCl/cm2

印制板生产厂商
标准方法的测试结果
施加超声波的测试结果
A
0.055,0.066
1.88
B
 0.269,0.331
2.73
C
0.922,3.12
3.12
D
0.103,0.112
1.35

重新选取样品A,超声萃取2小时,其表面离子污染为5.06μgNaCl/cm2,更换测试溶液,再超声萃取2小时,其表面离子污染为1.59μgNaCl/cm2,则表面离子污染总和为6.65μgNaCl/cm2。这个实验表明,在测试过程中只有一部分残留在印制板上的污染物被萃取出来,该测试方法的误差很大,不宜作为产品合格与否的判据。

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