·首页 ·行业标准 ·国家标准 ·国际标准 ·基础知识 ·电子基础 ·元器件 ·SMT耗材 ·贴片焊接 ·插装焊接 ·SMT相关
·SMT工艺 ·元器件封装 ·点胶丝印 ·封装加工 ·焊接技巧 ·SMT测试 ·SMT维修 ·SMT综合 ·静电工艺 ·PCB技术 ·质量体系认证

首页->SMT工艺论文->电子元器件封装手册->正文

O2O1封装元件批量3

作者:  来源:smt100 

 

实验结果与讨论
    印刷后数据分析。由表1可以看出,采用厚度为0.005英寸模板, U型和H型焊盘所有焊膏高度均在0.0055英寸左右,U型焊盘焊膏体积转移率为65%到70%,H型焊盘体积转移率为84:6到89:6。面积比率越高,焊膏体积的Cp就越高。视觉检测结果表明,实验过程里任何电路板上均没有出现焊膏桥接和焊膏缺失等缺陷,这一结果表明,整个实验中印刷过程得到了有效的控制。另外,在实验中,X及Y方向上焊盘宽度偏移均在20%以下。
    贴片后检测。结果表明元件缺失是主要的缺陷形式。元件缺失位置的典型形貌如图2所示,可以看出,实际上元件已经被放置在了焊膏上,只是没能保持原位而造成了元件缺失。
 

图4涂有焊膏的0201元件位置。由于贴片过程中0201电容的下沉特性低于0201电阻,因此更容易从其位置上脱落。
U型焊盘再流焊后分析。如图3所示,当采用A公司生产的焊膏时,共观察到5种缺陷,即元件缺失、告示牌(billboarding)桥接、墓碑现象和脱盘(of-pad),其中,以元件缺失和墓碑缺陷为主。较之B公司、C公司焊膏,A公司焊膏元件缺失和墓碑缺陷显得更为突出。(以往的焊膏研究数据表明, B焊膏粘着力高于A焊膏。粘着力测试程序基于IPC-TM-650,测试时间达8小时。)因此,造成元件缺失的原因,很可能在于A焊膏较之B焊膏具有相对较低的粘着力。

图5 A焊膏直方图,H型焊盘与图3 u型焊盘情况相同,A焊膏的元件缺失缺陷更为突出。
    图3也显示,对应0201电容位置上的元件缺失明显高于对应020 1电阻位置上的元件缺失数量。这很可能是因为两种元件高度和重量上的差异造成的。如图4所示,贴片前焊膏高度约为0.0055英寸。0201电容的平均高度在O.0l2英寸左右,0201电阻的平均高度在0.009至0.010英寸之间。0201电容的平均重量约为0.00028g,  而0201电阻为O.00014g左右。贴片过程中,020 l电阻会有2/3的体积陷入焊膏中,0201电容则仅有1/2的体积陷入焊膏。这样,当电路板移动或空气吹动时,0201电容则更容易从其位置脱离,从而造成元件缺失的缺陷。

表2

表3

图6不同元件类型(不同公司的0201电容)对应的拾取过程缺陷数量

图7不同元件类型再流焊后对应的缺陷数量。参考表5和表6
    至于桥接缺陷,对于B公司生产的焊膏,有高于9896的缺陷来自间距为0.006英寸的位置,而A、C焊膏,缺陷则100%来自于间距0.006英寸的位置,造成这一现象的原因很可能是由于B焊膏在印刷时会有更多的焊料沉积。

相关资料:
实现PCB高效自动布线的设计技术-3元件全部埋入基板内部的系统集成封装-1
元件全部埋入基板内部的系统集成封装-2元件全部埋入基板内部的系统集成封装-3
元件全部埋入基板内部的系统集成封装-4元件全部埋入基板内部的系统集成封装-5
元件全部埋入基板内部的系统集成封装-6元件全部埋入基板内部的系统集成封装-7
新一代半导体IC封装的发展-1新一代半导体IC封装的发展-2
微电子封装技术发展趋势-1微电子封装技术发展趋势-2
微电子封装技术发展趋势-30201元件对制造工艺的影响-1
0201元件对制造工艺的影响-20201元件对制造工艺的影响-3


上篇:O2O1封装元件批量4
下篇:O 2 O 1封装元件批量2
本站尊重知识产权,任何问题请联系:ad#51mcu.net
Copyright © 2004-2006 表面贴装技术网 免责条款