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微电子组装技术的发展/BGA·CS P主要特征(一)

作者:  来源:smt100 

 

一、微电子组装技术的发展/BGA·CS P主要特征

随着电子产品向便携化、小型化、网络化和高性能方向的发展,对电路组装技术和I/O引线数提出了更高的要求。原来在SMT中使用最普遍的QFP,由于受到加工精度、生产性、生产成本和组装工艺的制约、QFP封装间距的极限尺寸停留在0.30mm,这种间距在组装中其引线容易弯曲、变形或折断,对组装的工艺要求相当严格,使大范围的普及应用受到制约,200~300引脚QFP贴装的不良率变化见表1.1。新型球栅阵列封装器件(BGA)和细间距球栅阵列封装器件Fine Pitch BGA(csP)的开发应用,以I/0引线间距大于QFP的优势,在表面贴装器件中已占据了一定的地位,应用面逐步扩大,进而促进了高密度、高性能、多功能组装技术的发展。近年来BGA·CSP已在数字式摄录机、便携式VCR、笔记本电脑、卡片式Pc机、移动通信、车载通迅装备等产品中大量应用,为多芯片组件(MCM)进人批量化生产奠定了基础。

BGA·CSP作为一种实用的微电子封装器件,随着使用面的扩大,也将作为一种常用的表面贴装器件。由英国BPA公司对这类器件的使用预测,2000年以后将达到一定的规模(见表1.2)

1.1  200~300引脚QFP贴装不良率的变化

封装

引脚间距

(mm)

贴装不良率

(DPM)

要求的共平面性

(max\μm)

QFP

0.    65

0.5

0.4

150

250

1750

150

100

80

BGA

1.    5

1.27

10

65

150

150

 

1.2 不同封装形式IC的世界市场趋势

IC封装形式

1995年

2000年

2005年

SOP

PLCC

QFP

BGA

CSP

TAB

COB

170

30

59

-

-

8

28

336

19

173

7

3

16

58

446

8

216

20

28

30

129

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